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【6月16日|免费】为微电子人专属定制!半导体失效分析最新解决方案与进展!线上论坛,等你来探讨~
时间 : 2023-06-14 21:19:44   来源 : 面包芯语

近年来,半导体技术的迅猛发展是全球科技领域的热点之一。随着半导体技术的不断革新和应用深入,失效分析日益成为制约产业进一步发展的关键因素。为了能更好的助力半导体企业提高良率,先进的ESD测试方案,完备的EFA分析技术以及电子显微镜检测分析成为半导体工业领域重要手段。


【资料图】

作为赋能科技进步的全球领导者,赛默飞世尔科技携手DT新材料,将于2023年6月16日(周五)举办一场微电子学院专属定制“半导体产业失效分析解决方案线上论坛”。我们邀请到3位赛默飞资深应用专家,分享他们在ESD测试,物性失效分析和电性失效分析领域的前沿研究成果。诚挚邀请您参与,并在线上与专家交流探讨。本次论坛免费向微电子行业科研与产业界开放,共同打造产学研交流合作平台,欢迎广大微电子人分享与转发哦!

扫码立即报名,申请免费名额

半导体失效分析产业最新进展

为微电子人专属定制!

报告人:Tom Meuse 资深应用工程师

在ESD规范测试领域有超过40年的经验,是赛默飞ESD测试技术以及相关产品的顶级专家。同时也是ESDA 和JEDEC成员,在其中负责系统级ESD测试,器件级ESD测试以及可靠性测试相关标准的开发。并在ESD测试以及ESD系统设计方面发表了大量论文。

报告主题:芯片静电放电合规测试解决方案及行业动向

报告时间:9:30-10:10

内容摘要:主要介绍半导体静电放电合规测试的原理及相关行业标准,高端应用解决方案,以及行业测试标准或测试方法的发张方向。如何提高芯片静电放电合规测试的效率及精确度,如何缩短静电保护电路的从设计到合规的周期,如何紧跟行业步伐应对技术更新带来的静电合规测试的最新挑战,我们为您介绍最优解决方案。

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报告人:曹君正 博士 资深应用经理

马里兰大学帕克分校物理化学博士学位,之后加入Scribe并且引领了太阳能电池板的激光加工以及光学计量的发展。1998年,作为技术专家进入微电子领域,负责LVP,FIB,以及OFI测试系统的研发。目前任职赛默飞并领导EFA部门全球应用团队。

报告主题:电性失效分析技术概览

报告时间:10:10-10:50

内容摘要:EFA技术可以采用不同的原理(光学,带电粒子,热,接触式探针…),在不同的层级(晶圆,晶粒,晶体管…)来实现。通常需要多种技术的合作使用来解决复杂的案例。本次报告概览当前常用的EFA技术手段。

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报告人:韩伟 博士,高级业务拓展经理

1998年硕士毕业于北京工业大学材料学院,于2010年加入FEI公司任资深应用专家,并在2016年合并进入赛默飞,现为材料科学高级业务拓展经理,主要工作包括推广电子显微镜技术,具有20多年利用前沿电子显微镜技术实现材料微观表征的经验。

报告主题:赛默飞电子显微镜在半导体样品微观分析中的解决方案

报告时间:10:50-11:30

内容摘要:当下微电子工业和科研正在蓬勃发展,电子显微镜成了不可或缺的重要工具。利用扫描电镜可进行高分辨表面的表征与分析,精确聚焦的电子束可以直接在光刻胶上“刻写”微纳结构图形。利用聚焦离子束-“纳米尺度的手术刀”,可抽丝剥茧直抵问题的根源。本次报告将展示赛默飞在微电子多个应用方向的案例及解决方案,内容涉及扫描电镜、透射电镜、XPS、聚焦离子束及飞秒激光的技术及失效分中的应用。

参与福利

本次直播还将有2轮抽奖互动,敬请锁定直播间!

2023年6月16日(周五)

云端不见不散哦~

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